2021年9月1日，《Postharvest biology and technology》發(fā)布了名為“Spatial frequency domain imaging for determining absorption and scattering properties of bruised pears based on profile corrected diffused reflectance”的研究分析畢業(yè)論文，該畢業(yè)論文以南京市財經(jīng)大學為第一企業(yè)，何學明博士研究生為第一作者。此項科研工作中取得了江蘇社會科學股票基金、農(nóng)業(yè)農(nóng)村部農(nóng)業(yè)產(chǎn)品原產(chǎn)地解決武器裝備重點實驗室開放課題與自然科學基金的支助。

　　新鮮水果斜面輪廊對運用室內(nèi)空間時域顯像（SFDI）技術性精確測量吸收率（μa）與約化散射系數(shù)（μ‘s）有較大危害。在本分析中，應用已研發(fā)的結(jié)構(gòu)光顯像系統(tǒng)軟件開展相位差精確測量輪廊術（PMP）的檢驗，以得到 被測物件的表層相對高度。對平面圖和球面幾何實體模型開展蒙特卡洛（MC）模擬仿真，依據(jù)模擬結(jié)果明確漫反射光率（Rd）校準公式計算，并且用規(guī)范反射層開展認證。應用五個圓柱狀固態(tài)仿體認證所提到的Rd校準方式對估計μa和μ\’s數(shù)值危害，結(jié)果顯示，2個主要參數(shù)精密度和勻稱耐熱性獲得了明顯提升，相對偏差范疇各自為0.78%-11.84%和2.83%-8.95%，校準后的μa和μ\’s的相對標準偏差范疇各自為1.89×10-5 – 1.42×10-3 mm-1和1.76×10-4 – 8.17×10-3 mm-1。最終，將所提到的Rd校準方式用以梨機械設備損害檢測中，對一切正常梨和損害梨的μa和μ\’s圖譜開展了較為。結(jié)果顯示，在Rd校準前，一切正常梨輪廊最高處周邊的地區(qū)非常容易被鑒別為損害區(qū)；校準后，一切正常梨的μa和μ\’s圖更加勻稱，損害梨的損害地區(qū)更加突顯。本分析中提到的輪廊校準方式，融合SFDI技術性，針對精準測量梨機構(gòu)的μa和μ\’s尤為重要，進而降低梨損害檢驗時的錯判。

　　全文連接：https://doi.org/10.1016/j.postharvbio.2021.111570